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GBPI高壓加速老化箱(飽和)
簡要描述：
GBPI高壓加速老化箱(飽和)加速壽命試驗的目的是提高環(huán)境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷.等)，加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。用于調查分析何時出現(xiàn)電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。
- 產(chǎn)品型號：OPCT-40A
- 廠商性質：生產(chǎn)廠家
- 更新時間：2025-07-25
- 訪 問 量：154
GBPI高壓加速老化箱(飽和)設備概述
加速壽命試驗的目的是提高環(huán)境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷.等)，加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。用于調查分析何時出現(xiàn)電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。
隨著半導體可靠性的提高，目前大多半導體器件能承受長期的THB 試驗而不會產(chǎn)生失效，因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許多。為了提高試驗效率、減少試驗時間，采用了的壓力蒸煮鍋試驗方法。壓力蒸煮鍋試驗方法主要分成兩種類型：即PCT 和USPCT(HAST) 現(xiàn)在壓力蒸煮鍋試驗作為濕熱加速試驗被IEC(國際電工委員會)所標準化。
GBPI高壓加速老化箱(飽和)技術參數(shù)
試樣限制 | 本試驗設備禁止：易燃、易爆、易揮發(fā)性物質試樣的試驗或儲存腐蝕性物質試樣的試驗或儲存生物試樣的試驗或儲存、強電磁發(fā)射源試樣的試驗或儲存 |
規(guī)格尺寸&性能 | |
內(nèi)箱尺寸 | Φ400*D550mm(圓桶型Φ代表直徑、D代表深度) |
外箱尺寸 | W850*H1620*D1130mm以物實為準 |
溫度范圍 | +105℃~143℃ |
濕度范圍 | 飽和型99.99R.H |
壓力范圍 | 0~3.0kg/cm2(相對壓力) |
升溫時間 | RT(常溫) →143℃ 濕度99.99R.H約45min |
溫度波動度 | ±0.5℃ |
溫度均勻度 | ±2℃ |
滿足試驗標準 | IEC60068-2-66 1994 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗Cx：未飽和高壓蒸汽恒定濕熱等標準…… |
結構特征 | |
